此外 Acrevia 系统还可用于消除在 EUV 光刻错误中占约一半的随机错误,提升产品良率。
TEL 相关人士表示潜在客户确实正在进行 Acrevia 系统测试,该设备预计将首先用于逻辑代工而非存储器领域。
此前三星电子已在 4nm 工艺上对应用材料的 Centura Sculpta 进行了测试,如今又测试 TEL 的设备,旨在加强两大半导体设备供应商间的图案塑形订单竞争。
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